TEM 样品制备金属探针

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TEM 样品制备金属探针

  • 产品消息
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  • 2019-06-04
TEM 样品制备金属探针

TEM 样品制备金属探针


在电子显微镜下的样品制备金属探针规格,是依据不同针尖的半径,针尖2um以下的针身直径以及针身长,来定义强壮的针身。有两种的针身直径,两种不同的针锥长,两种针锥型式,以及四种不同的曲率半径供客户做选择。有着小针身长针锥规范的探针,对于切除样品的过程,能提供更长的切割长度,会比有着大针身规范的探针来的有优势。这能增加探针的使用寿命,并且针尖较小的探针对于lamella的样品抓取也非常的有效益。

 

特色介绍:

CR (针尖曲率半径) 有四种选项: 50nm, 75nm, and 250nm.

 

CBD (针身直径) 有三种选项: 250nm, 500nm, and 1000nm.

 

针身锥长(L) 有五种选项: L1, L2, UL1, UL2, and standard type