發展沿革

 

Mesoscope 奈米級探針製造商

發展沿革

衡陞科技致力於最先進的設備測量技術。從2010年起,衡陞科技發表SA系列是應用在SEM系統的故障分析,STA系列是適用於STM系統中,

MS系列應用在Hitachi系統的SEM做分析,TFA系列則用在TEM系統的物品挑取,衡陞科技更擁有完善及大規模生產奈米級探針的能力,能夠製作出比10奈米更小的技術。

除了銷售奈米級的探針之外,衡陞還提供了微米級探針使用於常規電氣性能的分析。FAPFA系列使用於光學顯微鏡探針台上的樣品上及電路修補。

為了滿足市場和技術上的需求,衡陞提供250奈米曲率半徑的FA系列及50奈米曲率半徑PFA系列來滿足不同的應用。 

衡陞科技擁有自己的生產線來製造所有的探針,探針表面清潔(MST)技術,我們配置了標準的探針監測控管及高度清潔包裝系統,以確保所有產品都可以滿足客戶的標準。

 

 

2006 / 07

衡陞科技設立於台北,台灣。

 

2010

提供CR35應用在28奈米的故障分析技術上。

 

2012

提供CR20應用在20奈米的故障分析技術上。

 

2013

提供CR10應用在14奈米的故障分析技術上。

 

2015

提供CR5應用在7奈米的故障分析技術上。

 

2018/04

衡陞科技總部移至新竹科學園區。

 

2019

代理德國Kleindiek NanotechnikNanoprobing系統。

 

2020

提供CR5+應用在3奈米的故障分析技術上。

 

2021

衡陞科技獲得ISO9001認證。

 

2022

衡陞科技預計取得ISO17025認證。

 

2023

衡陞科技預計取得ISO27001認證。